探測器每項環(huán)境試驗通常包含下述操作過程：
a）預處理；
b）初始檢測；
c）條件試驗；
d）中間檢測（需要時）；
e）恢復；
f）最后檢測。

探測器是核儀器系統(tǒng)探測和測量核輻射的部件，也可以是獨立設計.生產，試驗、檢驗和銷售的產品，同一產品的使用環(huán)境非常廣泛，不同產品之間差別極大。 特別是有些探測器對溫度變化極為敏感，有些探測器在環(huán)境變化時容易受損等。
當探測器與核儀器在相同環(huán)境下工作時，其嚴酷等級應高于核儀器；特別是探測器所處的環(huán)境條件通常更嚴酷和更復雜，包括反應堆堆芯、井下、水下等特殊使用環(huán)境，可能要經受高核輻射、高氣壓、水壓等環(huán)境條件。
健明迪檢測可靠性實驗中心具備各種核輻射探測器的環(huán)境試驗能力，為探測器提供專業(yè)的低溫試驗、高溫試驗、恒定濕熱試驗、振動試驗、沖擊試驗等環(huán)境試驗服務。

健明迪檢測可靠性實驗中心具備各種核輻射探測器的環(huán)境試驗能力，為探測器提供專業(yè)的低溫試驗、高溫試驗、恒定濕熱試驗、振動試驗、沖擊試驗等環(huán)境試驗服務。

GB/T 10263-2006 核輻射探測器環(huán)境條件與試驗方法
GB/T 2423.37-2006 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗L：沙塵試驗
GB/T 2423.61-2018 環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗和導則：大型試件砂塵試驗
GB/T 2423.1-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫
GB/T 2423.22-2012 環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗N：溫度變化
GB/T 2424.26-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第3部分：支持文件和導則 振動試驗選擇
GB/T 2423.58-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Fi：振動 混合模式
GB/T 2423.21-2008 電工電子產品環(huán)境試程 第2部分：試驗方法 試驗M：低氣壓

探測器環(huán)境試驗通常包含的試驗項目及其試驗順序如下：
1）低溫（貯存或使用） 試驗
2）高溫（貯存或使用） 試驗
3）恒定濕熱（貯存或使用） 試驗
4）振動試驗
5）沖擊試驗
6）包裝運輸（包括公路運輸、包裝跌落和包裝準傾倒） 試驗
7）自由跌落試驗
8）低氣壓試驗
9）高氣壓試驗
10）溫度變化試驗
11）太陽輻射試驗
12）水（滴水或降雨、沖水、浸水） 試驗
13）沙塵試驗
14）長霉試驗
15）鹽霧試驗
16）核輻射照射試驗
17）光效應試驗
18）電磁試驗